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數(shù)字式與模擬式超探儀分貝值讀數(shù)的統(tǒng)一
發(fā)布時(shí)間：2017-11-22
1前言
隨著現(xiàn)代科技尤其是電子技術(shù)的高速發(fā)展,在NDT領(lǐng)域新的檢測(cè)儀器、檢測(cè)設(shè)備的功能更強(qiáng)大、體積更小巧、使用更方便。超聲波探傷儀便是一個(gè)很好的例子,以汕頭超聲儀器研究所生產(chǎn)的CTS―2000為例,它重僅1.6kg,圖形顯示面板寬大,一次充電后連續(xù)工作時(shí)間可達(dá)8 h,且攜帶方便,具有20個(gè)探頭數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能、帶計(jì)算機(jī)輸出接口、自動(dòng)雙閘門報(bào)警、檢測(cè)數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)、自動(dòng)增益讀數(shù)等,使其操作者倍感人性化,使用更便捷。
與傳統(tǒng)的模擬式超聲探傷儀相比,數(shù)字機(jī)具有明顯的優(yōu)勢(shì)。但是。數(shù)字機(jī)的波形分貝值讀數(shù)是以增益方式獲得的,其數(shù)值與模擬機(jī)的衰減方式讀數(shù)值符號(hào)相反,相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)及教科書上對(duì)分貝的讀數(shù)符號(hào)要求是非常嚴(yán)格的,不容許紊亂,這就給操作者提出一個(gè)統(tǒng)一讀數(shù)的問題。
2實(shí)際讀數(shù)
為了更好的說明以上問題,下面舉一個(gè)實(shí)例:用汕頭CTS―22A型模擬機(jī)與武漢HS510數(shù)字機(jī)分別檢測(cè)一工件,看看實(shí)際讀數(shù)分別是怎樣的。用模擬機(jī)檢測(cè),先進(jìn)行儀器調(diào)校,并繪制出面板DAC曲線,假設(shè)此時(shí)探傷靈敏度為50dB。檢測(cè)時(shí)發(fā)現(xiàn)工件某處缺陷波回波超出DAC曲線,調(diào)衰減器讀數(shù),至58dB缺陷波與DAC曲線高度一致,此缺陷記錄為DAC+8dB。
用數(shù)字機(jī)檢測(cè),同樣調(diào)整儀器,自動(dòng)生成DAC包絡(luò)曲線,假定此時(shí)探傷靈敏度亦為50dB,檢測(cè)到的缺陷波高超出DAC曲線,調(diào)增益,儀器自動(dòng)將反射波降至DAC曲線,讀數(shù)現(xiàn)為-8dB,即42dB,如果我們將之記為DAC-8dB,此結(jié)果與上述模擬機(jī)結(jié)果正好相反。在這里,缺陷越大,分貝數(shù)反而越小,很顯然,按標(biāo)準(zhǔn)GB 11345-1989,如果使用數(shù)字機(jī)時(shí)機(jī)械地照搬上述記錄方法是不對(duì)的。
3讀數(shù)的統(tǒng)一
如何將數(shù)字機(jī)讀數(shù)與書本及標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)一呢?不妨可以采用以下方法:首先調(diào)整儀器,通過對(duì)比試塊上自動(dòng)生成DAC曲線,以此時(shí)的dB數(shù)為基準(zhǔn),記為基準(zhǔn)DAC,然后選擇表面補(bǔ)償數(shù),如選擇-4 dB,則在探傷參數(shù)表面補(bǔ)償欄上輸入4 dB,我們將此時(shí)靈敏度稱實(shí)際靈敏度記為DAC,據(jù)此調(diào)出檢測(cè)靈敏度,按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的dB取其相反符號(hào)數(shù)輸入判廢、定量、與評(píng)定值。檢測(cè)時(shí),如果發(fā)現(xiàn)某一缺陷波波高為DAC+△dB,則記錄為DAC-△dB。簡(jiǎn)而言之,即在對(duì)比試塊上自動(dòng)調(diào)校基準(zhǔn)DAC曲線以后,標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的評(píng)定線,定量線(測(cè)長(zhǎng)線),判廢線的數(shù)值輸入,表面補(bǔ)償數(shù)值的輸入以及實(shí)際檢測(cè)數(shù)據(jù)值的讀取(增益數(shù))都取其相反數(shù)。
例如:用HS510機(jī)檢測(cè)某工件焊縫(壁厚20mm),用GB 11345-1989標(biāo)準(zhǔn)B級(jí)檢測(cè),使用對(duì)比試塊自動(dòng)生成DAC曲線,讀數(shù)50 dB,判廢線DAC-4 dB,在儀器上判廢欄輸入+4 dB,定量線DAC-10 dB,在儀器定量欄輸入+10 dB,評(píng)定線DAC-16 dB,在儀器評(píng)定欄輸入+16 dB,表面補(bǔ)償-4dB,在儀器表面補(bǔ)償欄輸入+4 dB。實(shí)際檢測(cè)時(shí),某缺陷波高超出面板,調(diào)增益,使之自動(dòng)降至與包絡(luò)曲線同高,此時(shí)顯示為60 dB,我們將此缺陷△(60-(50+4)=+6)記為-6dB,故可以判定此缺陷在測(cè)長(zhǎng)區(qū)域內(nèi)。
在標(biāo)準(zhǔn)試塊生成面板DAC曲線后,對(duì)模擬機(jī)而言,衰減器每減小一個(gè)dB數(shù)靈敏度便上升一個(gè)dB數(shù),相應(yīng)的面板DAC曲線便下移一個(gè)dB數(shù)。檢測(cè)時(shí)為使缺陷波高與面板DAC曲線相當(dāng)而調(diào)整衰減器讀數(shù),此時(shí)衰減器增加的dB值,是將缺陷波降至DAC曲線的量值;對(duì)數(shù)字機(jī)而言增益鈕每增加一個(gè)dB數(shù),靈敏度便上升一個(gè)dB數(shù),所接收的波形也放大一個(gè)dB數(shù)。檢測(cè)時(shí),為使缺陷波高與面板DAC曲線相當(dāng)而調(diào)整增益讀數(shù),此時(shí)增益讀數(shù)所減少的dB值,是將DAC曲線升至缺陷波位置的量值。
4結(jié)論
通過以上討論可以看出,在對(duì)比試塊上調(diào)出基準(zhǔn)DAC曲線后,其余讀數(shù)在記錄時(shí)均應(yīng)取其相反數(shù)處理。只有這樣才能使檢測(cè)結(jié)果在最后的報(bào)告中不致發(fā)生紊亂。如果采用JB 4730―1994標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè),其原理一樣,只不過將DAC曲線換成AVG曲線而已。
摘自：中國計(jì)量測(cè)控網(wǎng)
